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日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP

访问次数:48

更新日期:2022-04-08

简要描述:

日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP
切割样品表面缺陷的评估和检查
可以通过分辨率为 15 μm 的缺陷图轻松校准和验证。

日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP
类型无损伤

日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP

切割样品表面缺陷的评估和检查
可以通过分辨率为 15 μm 的缺陷图轻松校准和验证。

应用/功能





它可以作为离线表面缺陷校准的专家设备,这是质量评估不可缺少的














设备配置




该设备是用户安装和连接的设备。
只需将检测装置和PC本体安装在水平工作台上,用两条电缆连接检测装置和PC
本体即可完成安装。
















排队





根据泛光灯的配置,ALTIS 分为三种类型。
请根据检测对象和检测缺陷进行选择,并在购买时注明。

* ALTIS-P 可以定制为鱼眼检测模型作为选项。










各种画面




检查画面











扫描切割样品以检测缺陷。您可以在下面的四个屏幕上查看测试结果。





检查结果画面(检测图显示)
检查结果画面(原图显示)









检查结果画面(检测图显示)
检查结果画面(原图显示)





检查结果屏幕(缺陷列表显示)
检查结果屏幕(显示检测图像列表)









检查结果屏幕(缺陷列表显示)
检查结果屏幕(显示检测图像列表)





信息管理画面(结果数据一览)










信息管理画面(结果数据一览)

您可以使用与检查相同的屏幕配置来检查过去执行的检查的数据。
您可以从过去的检查结果中选择任何数据,并将其以 CSV 格式保存
到 USB 存储器中。






信息管理画面(检测图显示/原始图像显示/缺陷列表显示/检测图像列表显示)




您可以在与测试时相同的四个屏幕上查看过去的测试结果。





信息管理画面(检测图显示)信息管理画面(原图显示)信息管理画面(缺陷列表显示)信息管理画面(显示检测图像列表)





浓度测量画面










浓度测量画面

您可以调出有缺陷图像的浓度测量屏幕。在密度测量屏幕上,您可以分析
缺陷的等级和大小。






检查条件设定画面










检查条件设定画面
最多可以注册100个品种
可以为每种产品类型注册
各种设置,例如检测灵敏度和尺寸。
在检查开始时,
只需选择注册品种即可
设置适当的检查条件 。





波形监视器










波形监视器

可以使用波形监视器功能调整探测器(相机/泛光灯) 。





* 设备启动时,每个屏幕上显示的语言可以从日语、韩语和英语中选择。

日本asahi表面缺陷评估装置ALTIS-RP





规格







解析度宽度方向 15 μm × 长度方向 15 μm
相机CCD线阵传感器相机(单色)10680像素/80MHz
泛光灯LED 线状照明(可从以下选择)
、ALTIS-RP(反射/透射)
、ALTIS-R(反射)
、ALTIS-P(透射)

样本量尺寸:210mm x 297mm(A4 尺寸)
厚度:0.05mm ~ 最大 1.0mm

检测判断明/暗渐变,宽度/长度/面积
移动速度工作台移动速度 6 m/min。
检查时间约 15 秒(每张)
检查范围拍摄范围:160 mm x 230 mm (10680 pix. X 15333 pix.)
测量范围:150 mm x 220 mm (10000 pix. X 14667 pix.)
图像文件存储容量:386 MB
图像文件存储容量:最多800张

电源AC100-220V 50 / 60Hz
扩展总线:PCI、PCI-Express (x4)
硬盘容量:500GB


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